Menu
Menu

X-şüasının Difraksiyası (XRD)

X-şüası Difraksiya, kristal materialların quruluşunu təhlil etmək üçün istifadə edilən bir dağıdıcı olmayan sınaq üsuludur. Əksər hallarda, Elementdə analiz olunan nümunələr, xırda toz şəklində hazırlanmış nümunələrdən istifadə edərək təhlil edilir.

HAQQINDA

CN Group – 5 fərqli ölkədə keyfiyyətə nəzarət xidmətlərinin ən yeni texnoloji həllərini təqdim edir.

ƏLAQƏ MƏLUMATI

Baş Ofis: AZ1032, 9-cu Əhmədli küç.28 Bakı / Azərbaycan
Tel: +994 12 375 60 00
Faks: +994 12 374 44 04
E-poçt:  info@cngroup.az
Vebsayt:  www.cngroup.az

BİZİ İZLƏ

CN Group © 2020